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將ADuM4135柵極驅動器與Microsemi APTGT75A120T1G 1200 V IGBT模塊配合使

2020-12-02 10:01:31
絕緣柵雙極晶體管(IGBT)是一種適合高電壓應用的高性價比解決方案,例如車載充電器、非車載充電器、DC-DC快速充電器、開關模式電源(SMPS)應用。開關頻率范圍:DC至100千赫。IGBT可以是單個器件,甚至是半橋器件,如圖1所示。
本應用筆記中描述的設計中的APGT  75A  120 IGBT是一種快速溝槽器件,采用Microsemi公司專有的現場隔膜IGBT技術。IGBT器件還具有低尾電流、高達20千赫的開關頻率和軟恢復并聯二極管,由于對稱設計,雜散電感低。所選IGBT模塊的高度集成可以在高頻下提供最佳性能,并且具有低結殼熱阻。
ADI公司的柵極驅動技術用于驅動IGBT。ADuM4135柵極驅動器是一款單通道器件,在25 V  (VDD至VSS)的工作電壓下,典型驅動能力為7 A源電流和吸電流。該器件的最小共模瞬變抗擾度(CMTI)為100千伏/微秒。ADuM4135可以提供高達30伏的正向電源,因此15伏電源足以滿足該應用。
測試設置
電氣設置
顯示了系統測試電路如圖2的電氣設置。半橋兩端的輸入端施加DC電壓,輸入級增加一個900F(C1)解耦電容。輸出級是一個200 H  (L1)和50 F  (C2)的電感電容(LC)濾波器級,它對輸出進行濾波,并將其傳輸到2 至30 的負載(R1)。表1詳細說明了電源設備的測試設置。U1是DC高壓和高壓電源,T1和T2是單IGBT模塊。
空載試驗
在空載測試設置中,模塊輸出端的輸出電流較低。在這種應用中,使用30 電阻。
將ADuM4135柵極驅動器與microsemi  apt  gt75a  120 t1 g  1200v  IGBT模塊配合使用
1 VDC是HV,高壓電壓。
2 IIN代表通過U1的輸入電流。
1所有溫度都由熱像儀記錄。
2從變壓器測量。
開關IGBT性能圖
負荷試驗
測試配置類似于圖2所示的測試設置。表5總結了觀察到的結果,圖11至16顯示了不同電壓、頻率和負載下的測試性能和結果。
測試4在200伏、10千赫開關頻率和25%占空比下進行。測試5在600伏、10千赫開關頻率和25%占空比下進行。測試6在900伏、10千赫開關頻率和25%占空比下進行。
1 IOUT是負載電阻R1中的輸出電流。
2 VOUT是R1兩端的輸出電壓。
3 POUT為輸出功率(IOUT   VOUT)。
開關IGBT性能圖及空載試驗
大電流測試
測試配置類似于圖3所示的物理設置。表6總結了觀察到的結果,圖17至20顯示了不同電壓、頻率和負載下的測試性能和結果。
輸出負載的電阻因每次測試而異,如表1所示,其中2 至30 負載用于改變電流。測量VOUT,它是R1兩端的電壓。
測試7在300伏、10千赫開關頻率和25%占空比下進行。測試8在400伏、10千赫開關頻率和25%占空比下進行。
1引腳為輸入電源(IIN  車輛識別號),其中車輛識別號為DC電源電壓。
交換IGBT的性能圖和負載測試
本部分的測試結果給出了不同目標電壓下的開關波形。

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