創新天線測試技術的領先系統制造商—— 法國微波視覺集團(以下簡稱MVG)最近宣布,在其廣受歡迎的MiniLAB系統中集成了RSE和無源天線測量功能。MiniLAB系統不僅可以進行高精度的OTA測試,還可以提供被動測量,為LTE設備上的RSE測量提供了一種新的方案。
在無源天線測量中,MiniLAB的電子掃描多探頭陣列封裝在高隔離暗室中,可以加快測量速度,為直徑為30 cm *的被測器件繪制天線輻射圖,是優化各種器件天線性能的理想解決方案。
輻射雜散輻射是指受測設備(DUT)的所有非基本輻射。高水平輻射發射會給某些無線產品帶來功能挑戰,干擾其他無線設備或無線電力系統,或改變設備本身的運行效率。
為此,國際電信聯盟(ITU)、歐洲的無線電力和電信終端設備指令(RTTE)以及聯邦通信委員會(FCC)等標準化組織對無線設備的RSE測量提出了嚴格的測試要求。這些測試要求旨在消除被測設備附近有其他無線設備時的干擾風險。
過去RSE是通過垂直掃描機械運動來測量的,以便在方位角旋轉時對設備進行監控。但和很多傳統測試方法一樣,在設計和生產過程中非常耗時,上市時間對廠商來說非常重要。
與其他主動設備相比,MiniLAB采用多探頭技術,為LTE等主動設備提供了全新的RSE測試方案。在提供準確穩定數據的同時,可以更快、更詳細、更經濟地解決企業的RSE測試需求。
MiniLAB可以大大縮短測量時間,提交精確的測量數據,其集成的多探頭陣列采用電子掃描測量無線設備,使用戶在高達6 GHz的LTE頻段更容易、更快速地測量RSE。RSE測量結果可在測量完成后20秒內獲得。
微型實驗室配備了一個全消聲室屏蔽,性能為100分貝,高動態范圍,可以測量發射的無線信號和周圍發射的峰值水平,而不會造成任何失真。